Scan chain
Scan chain ya da Tarama zinciri, IC dizaynı için bir test dizaynı tekniğidir. Buradaki amaç IC içerisindeki her flip-flop davraşını test etmeyi kolaylaştırmaktır. Bu teknik basitçe şu şekilde izah edilebilir. Test, testi başlatmak için, dışarıdan girilen scan enable sinyali ile başlatılır. Bu sinyal girildiğinde IC içerisindeki test edilmesi amaçlanan tüm flip-flop'lar uzun bir shift register'a bağlanır. IC'nin clck sinyali ve keyfi bir data kullanılarak flip-flopların çıkışı okunur ve gerekli karşılaştırma yapılır. Eğer çıkan sonuç beklenen sonuç ile aynı ise üretimde bir hatanın olmadığı kanısına varılır.
 | Bu madde, öksüz maddedir; zira herhangi bir maddeden bu maddeye verilmiş bir bağlantı yoktur. (Ağustos 2022) |
Scan chain ya da Tarama zinciri, IC dizaynı için bir test dizaynı tekniğidir. Buradaki amaç IC içerisindeki her flip-flop davraşını test etmeyi kolaylaştırmaktır.
Bu teknik basitçe şu şekilde izah edilebilir. Test, testi başlatmak için, dışarıdan girilen scan enable sinyali ile başlatılır. Bu sinyal girildiğinde IC içerisindeki test edilmesi amaçlanan tüm flip-flop'lar uzun bir shift register'a bağlanır. IC'nin clck sinyali ve keyfi bir data kullanılarak flip-flopların çıkışı okunur ve gerekli karşılaştırma yapılır. Eğer çıkan sonuç beklenen sonuç ile aynı ise üretimde bir hatanın olmadığı kanısına varılır.
 | Elektronik ile ilgili bu madde taslak seviyesindedir. Madde içeriğini genişleterek Vikipedi'ye katkı sağlayabilirsiniz. |